AMC99026超聲波掃描顯微鏡，作為一款跨學(xué)科、多功能、高分辨率的顯微成像儀器，具有穿透性檢測能力，可檢測材料或結(jié)構(gòu)內(nèi)部微小缺陷且實時顯示檢測結(jié)果，檢測分辨率可達到微米級別。該設(shè)備配套的超聲顯微測量軟件，可以實現(xiàn)三軸運動平臺、超聲激勵接收儀和數(shù)字化儀等模塊的控制，最終實現(xiàn)超聲A掃描、C掃描及快速掃描等功能。該設(shè)備廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品線、材料科學(xué)、失效分析和元器件檢測等領(lǐng)域。北京航天測控自主研制的超聲波掃描顯微鏡，實現(xiàn)多項技術(shù)的自主可控，可替代國外同類產(chǎn)品。